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用测试解决方案解决SoC中的功能性安全问题
[ 作者:佚名    转贴自:www.eet-china.com/webinar/Synopsys_20180516    点击数:34    更新时间:2018/4/3    文章录入:LA ]
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用测试解决方案解决SoC中的功能性安全问题
2018年3月21日Synopsys

举行日期:2018年5月16日
举行时间:10:00 - 11:30 (北京时间)


由于汽车集成了更多的电子设备来控制安全关键部件,系统内的soc必须例行地进行现场自我测试,以检测由于老化而导致的结构缺陷,并符合ISO 26262的要求。这些自我测试必须在有动力的情况下,在正常运行时在现场执行。为了应对这些挑战,Bosch正在集成多个Synopsys测试解决方案,包括ECC机制和内置自测试(BIST)来检测结构硬件故障。
本研讨会会介绍:

•功能安全与汽车市场的相关性。
•Synopsys内存BIST和接口IP测试解决方案,以满足汽车安全要求。
•博世是如何利用Synopsys DesignWare® STAR内存解决方案®(SMS),STAR分层解决方案(SHS),及DFTMAX LogicBIST的
相关资料: 采用STAR Hierarchical System测量单元实现芯 片时钟和进程监控
演讲专家  黄秋儿 -STAR 内存系统 FAE
黄秋儿是Synopsys公司设计软件STAR内存系统的高级工程师。在加入Synopsys之前,Qiuer为HiSilicon公司工作,领导了一个静态计时的团队。拥有超过18年的数字设计经验,对设计实现、DFT和内存BIST解决方案有深入的了解。他拥有武汉大学光学专业的学士学位。
幸运礼物

凡参与研讨会并完整填写调查问卷的用户均有机会获得由新思公司提供的16G iPod Touch (共1个)。
(奖品以实物为准,最终解释权归新思公司所有。为确保您能收到获奖资讯,请您及时更新个人讯息!)

公司介绍
新思公司(Nasdq:SNPS)是开发我们每天都要用到的电子产品和软件应用的那些创新公司的芯片到软件(Silicon to Software™)合作伙伴。作为全球第15大软件公司,新思是电子设计自动化(EDA)和半导体IP领域中的全球领先企业,有着悠久的历史,并且在软件安全和高质量解决方案方面也在逐渐积累领先优势。不管您是开发先进半导体的系统级芯片(SoC)设计师还是编写要求最高安全和最高质量应用程序的软件开发人员,新思都能为您提供创新、高质量安全产品所需的解决方案。

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