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  物体振动振幅的光学测量仪         
物体振动振幅的光学测量仪
[ 作者:佚名    转贴自:http://www.tt.cas.cn/web/Fruits/search.asp?pgno=24&txtFruitType=TG&txtTop=200000&txtOrderby=%20Fruit    点击数:61    更新时间:2006/9/12    文章录入:夏晶晶 ]
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项目类型: 可推广技术产品
项目单位名称: 中国科学院上海光学精密机械研究所 (查看联系信息)
专利状况: 授权专利 专利(申请)号:00217068.X
技术(产品)报价:
单位所在地区:

技术(产品)用途介绍:

 一种物体振动振幅的光学测量仪,包括沿光源发射光束的前进方向上,依次置有第一透镜、第二透镜、分束器、偏振分束器、偏振变换器至被测物体。由被测物体第一次反射的带有斑纹噪音的光束经偏振分束器反射后,由第四透镜会聚至光折变晶体。光折变晶体产生的相位共轭光由偏振分束器反射到被测物体,被测物体反射的相位共轭光不再带有斑纹噪音。因此,无论是表面光滑或粗糙的被测物体,其振动振幅均可以亚纳米分辨率地检测。

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