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  间接坐标测量方法及装置         
间接坐标测量方法及装置
[ 作者:佚名    转贴自:http://www.tt.cas.cn/web/Fruits/search.asp?pgno=20&txtFruitType=TG&txtTop=200000&txtOrderby=%20Fruit    点击数:65    更新时间:2006/9/12    文章录入:夏晶晶 ]
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项目类型: 可推广技术产品
项目单位名称: 中国科学院遥感所 (查看联系信息)
专利状况: 授权专利 专利(申请)号:96100722.2
技术(产品)报价:
单位所在地区:

技术(产品)用途介绍:

 用于坐标测量的间接方法及装置,是通过测量被测量点到定点的距离、在定点上测量与定方向所成的角度来计算被测量点的二维或三维坐标值。本发明使得测量装置的成本比现有的直接测量装置大大降低,测量装置对所需工作环境的要求也大大降低,而且测量不产生积累误差,测量精度高。本发明可用于机械工程领域的测量、测绘、制造,也可用于土木工程领域的测量、测绘、目标精确定位,或者其它宏观或微观领域的坐标测量。

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