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集成电路逆向分析系统

作者:佚名    转贴自:http://www.tt.cas.cn/web/Fruits/search.asp?pgno=55&txtFruitType=ZH&txtTop=200000&txtOrderby=%20Fruit    点击数:93


项目类型: 可转化成果
项目单位名称: 中国科学院自动化研究所 (查看联系信息)
专利状况:
项目来源:
转化方式:  其他
已转化地区:
单位所在地区:

成果介绍及技术指标:

  集成电路逆向分析系统(ICRES3.0),是通过图象处理、模式识别、人工智能以及计算机辅助设计等高科技方法,从当代先进集成电路产品中获取其中蕴涵的设计思想、技术原理、实现方法和制造工艺,使我们最终设计并制造出同样甚至更高性能的集成电路。从1985年自动化研究所就开始集成电路分析技术研究开发,分别于1986年、1990年和1992年研制开发了系列集成电路分析系统,这是我国唯一实用型的集成电路分析系统。分别获得中国科学院科技进步一等奖两次,并于1993年获得国家科技进步二等奖。在国家“九五”攻关期间,获得科技部的重大科技项目支持,开展了《亚微米、深亚微米集成电路自动化分析技术研究》项目,并应用该项目的成果开发了集成电路分析系统ICRES3.0。

应用范围:

  该系统可用于:集成电路设计的公司和单位;国防研究单位;集成电路反向工程的公司和单位及从事集成电路知识产权的单位。